国内刊号:11-2637/O7
国际刊号:1000-985X
发布日期:
作者:朱家怡, 杜帅, 周鹏飞, 郑凡, 陈云琳
单位:北京交通大学物理科学与工程学院,北京 100044
关键词:LN/ITO薄膜,异质结,磁控溅射镀膜,透光率,霍尔效应,
基金:国家大学生创新训练计划项目(20241000411453)
在200 ℃下采用磁控溅射方法在玻璃衬底与硅基板上溅射沉积LiNbO3/ITO(LN/ITO)异质结薄膜。通过X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、紫外可见分光光度计和变温霍尔效应等测试了该薄膜的结构、形貌及光电性质。XRD测试结果表明,相比于ITO/LN,LN/ITO叠层顺序有更优的生长取向和结晶性能。AFM结果显示,200 ℃下异质结薄膜表面较为平整,鲜少有凸起。通过紫外可见分光光度计透光性能测试,相比于LN单层薄膜,叠层后的异质结薄膜的透光率在可见光范围内有所提高,且退火后异质结薄膜透光性进一步增强。利用变温霍尔效应测试仪研究了LN/ITO异质结的电学性质,测试结果表明LN/ITO异质结薄膜为p型半导体;与LN单层薄膜相比,LN/ITO异质结薄膜的电导率提高了11个数量级。
来源:2025年第5期
《人工晶体学报》期刊编辑部